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日本半導(dǎo)體MM測(cè)試儀本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級(jí)ESD測(cè)試，包括CDM測(cè)試。可應(yīng)用于器件開(kāi)發(fā)評(píng)價(jià)、器件認(rèn)證和進(jìn)廠(chǎng)測(cè)試、評(píng)價(jià)、使用環(huán)境評(píng)價(jià)等各種試驗(yàn)用途。
產(chǎn)品分類(lèi)
| 品牌 | TET | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|
日本半導(dǎo)體MM測(cè)試儀產(chǎn)品規(guī)格:
1200 C: D-CDM/F-CDM（）●1200 EL（ESD/閂鎖測(cè)試機(jī)臺(tái)）●1200 ELC（ESD/閂鎖/CDM 測(cè)試機(jī)臺(tái)）產(chǎn)品用途1200系列的4種功能：HBM、MM、閂鎖和CDM在一個(gè)系統(tǒng)中 ，1350引腳對(duì)測(cè)試可用（使用專(zhuān)用DUT板在非電源引腳和電源引腳之間時(shí)）。本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級(jí)ESD測(cè)試，包括CDM測(cè)試。可應(yīng)用于器件開(kāi)發(fā)評(píng)價(jià)、器件認(rèn)證和進(jìn)廠(chǎng)測(cè)試、評(píng)價(jià)、使用環(huán)境評(píng)價(jià)等各種試驗(yàn)用途。
日本半導(dǎo)體MM測(cè)試儀產(chǎn)品詳情:
*1 MM 標(biāo)準(zhǔn) 400V。可施加 2KV，但在高電壓狀態(tài)下持續(xù)試驗(yàn)會(huì)導(dǎo)致繼電器劣化。
*2 需要示波器、電流探頭、衰減器（20dB）。關(guān)于對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品，請(qǐng)另外商談。
*3 CDM 波形保證范圍為±2000V，空氣放電時(shí)受到濕度、接觸部的構(gòu)造、污染等影響， 波形有可能會(huì)有很大變化。
*4 每個(gè)電源都具有閉鎖檢測(cè)功能和電源過(guò)壓測(cè)試功能。
*5 測(cè)試范圍由 Vsupply 而定。
*6 需使用熱電纜和外部測(cè)試夾具。
*7 該系統(tǒng)使用的組件包括水銀。請(qǐng)按照法律處理含有汞的組件。
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